Der Microtrac S3500 ist ein von der Industrie bevorzugter Laserbeuger, ideal zur Partikelgrößenbestimmung unterschiedlichster Materialien. Er ist das erste Messgerät für Partikelgrößen, das drei präzise platzierte Laser Dioden nutzt, um Partikel so genau wie nie zuvor zu bestimmen.
Das patentierte Tri-Laser-System bietet genaue, verlässliche und wiederholbare Partikelgrößenbestimmungen für eine Vielfalt von Anwendungen durch die Verwendung der bewiesenen Theorie der Mie-Kompensation für runde Partikel, und dem eigens entwickelten Prinzip der Modifizierten Mie-Berechnung für unrunde Partikel. Der S3500 misst Partikel von 0,02 bis 2.800 µm.
Laserbeugung mit roten und blauen Lasern: BLUEWAVE
Leistungsmerkmale
- Tri-Laser, rot, Multi-Detektoren, optisches Mehrwinkelsystem
- Algorythmen, die Mie-Kompensation und Modified Mie-Berechnungen für unrunde Teilchen verwenden
- Messbereich von 0,02 bis 2.800 µm
- Nass- und Trockenmessungen
- Der in sich geschlossene optische Weg stellt den kompletten Schutz der optischen Komponenten sicher, was zu wenig bis gar keiner Beeinflussung durch Anwender führt
Produktvorteile
- Durch den Einsatz von 3 roten Lasern wird der Messbereich erweitert, um Ihnen die Flexibilität zu gewähren, Messungen an einer Bandbreite von Proben durchzuführen
- Die eigens modifizierten Mie-Berechnungen erlauben Nutzern, komplexe Partikel, mit denen andere Messgeräte zu kämpfen haben, akkurat zu messen
- Nahtloser Übergang von Nass- zu Trockenmessungen reduziert die Stillstandszeiten
- Feste Detektoren bieten lange Haltbarkeit und sorgen für eine gute Ausrichtung
- Die kleine Standfläche reduziert den Bedarf an wertvollem Platz im Labor
Partikelgrößen- und Formanalysator S3500 Das sagen unsere Kunden
Vertrauenswürdige Bewertungen von
Typische Applikationen
Wird in verschiedenen Bereichen verwendet, wie etwa: Getränke, Biotechnologie, Chemikalien, Lebensmittel, Medizin / Pharma, Metallpulver, Metalle, Pigmente, ...
Chemikalien
Batteriematerialien
Pulver
Besuchen Sie unsere Applikationsdatenbank, um die beste Lösung für Ihre Anforderungen an die Partikelcharakterisierung zu finden
Partikelgrößen-Analysator S3500 Technische Daten
| Measuring range | 0.02 µm - 2.8 mm |
|---|---|
| Measuring principle | Laser diffraction |
| Lasers | 3x Red 780 nm |
| Laser power | 3 mW nominal |
| Detection system | Two fixed photo-electric detectors with logarithmically spaced segments placed at correct angles for optimal scattered light detection from 0.02 to 165 degrees using 151 detector segments. |
| Data | Volume, number and area distributions as well as percentile and other summary data |
| Data format | Stored in ODBC format in encrypted Microsoft Access Databases to ensure compatibility with external statistical software applications. |
| Data integrity | Data integrity may be ensured using FDA 21 CFR Part 11 compliant security features including password protection, electronic signatures and assignable permissions |
| Measuring time | ~ 10 to 30 seconds |
| Power requirements | AC input: 90 - 132 VAC, 47 - 63 Hz, single phase 200 to 265 VAC, 47 - 63 Hz, single phase |
| Power consumption | 25 W nominal, 50 W max. (depending on options installed) |
| Environmental conditions | Temperature: 5° to 40° Celsius (50° to 95° Fahrenheit) Humidity: 90% RH, non- condensing maximum Storage temperature: -10° to 50° Celsius (14° to 122° Fahrenheit) (dry only) Pollution: Degree 2 |
| Physical specifications | Case Material: Steel and impact resistant plastic Exterior surfaces are finished with corrosion resistant paint or plating |
| Dimensions (W x H x D) | ~ 560 x 360 x 460 mm (22 x 14 x 18 in) |
| Weight | ~ 27 kg (60 lbs ) |
| Eductor air supply | 100 psi (689 kPa) maximum pressure 5 CFM (8,5 m3/h) at 50 psi (345 kPa) minimum flow rate Free of dry contaminants, moisture and oil |
| Vacuum | Vacuum must exceed 50 CFM |
Partikelgrößen-Analysator S3500 Downloads
Produktdatenblatt S3500
Produktübersicht
10 Fehler bei der Partikelanalyse - und wie man sie vermeidet
Die Partikelanalyse ist integraler Bestandteil der Qualitätskontrolle von Schüttgütern und wird in zahlreichen Laboratorien routinemäßig durchgeführt. Die angewendeten Methoden sind dabei oft seit Jahren etabliert und werden kaum hinterfragt. Dennoch sollte das Vorgehen gelegentlich kritisch überprüft werden, denn eine ganze Reihe von Fehlerquellen können das Ergebnis einer Partikelanalyse negativ beeinflussen. Dieses White Paper soll Denkanstöße liefern, um die eigenen Methoden zur Partikelcharakterisierung sicherer und besser zu machen.
White Paper: Methodenvergleich Partikelanalyse
Warum liefern verschiedene Messverfahren unterschiedliche Ergebnisse? Partikelcharakterisierung ist in vielen Industrien und Anwendungsbereichen eine gängige Analysenmethode für Pulver, Granulate, Suspensionen und Emulsionen, wobei Größen vom Nanopartikel bis zum Kieselstein vorkommen. Dafür werden verschiedene Technologien und Messgeräte eingesetzt, die jeweils für bestimmte Größenbereiche oder bestimmte Materialeigenschaften optimal einsetzbar sind, wobei sich die Messbereiche teilweise überlappen. Daraus ergibt sich für viele Applikationen die Frage, welche Methode optimal für diese Anwendung geeignet ist, denn der Messbereich des Gerätes allein reicht zur Beantwortung dieser Frage nicht aus. Erschwerend kommt hinzu, dass verschiedene Messverfahren für die gleiche Probe oft unterschiedliche Ergebnisse liefern. Interpretation und Abgleich dieser Unterschiede stellt Anwender oft vor große Herausforderungen. In diesem Whitepaper sollen die gängigen Methoden der Partikelanalyse zunächst vorgestellt und dann miteinander verglichen werden.
21 CFR Part 11 Compliance Matrix for Microtrac Instruments
This document explains how Microtrac FLEX software has been designed to satisfy and comply with regulations in 21 CFR Part 11 for electronic records and electronic signatures.