Priemyslom preferovaný laserový difrakčný analyzátor, ideálny pre charakterizáciu častíc: Microtrac S3500 je prvý analyzátor veľkosti častíc, ktorý používa tri presne umiestnené červené laserové diódy k tak presné charakterizácii častíc, aká nikdy predtým nebola možná.
Patentovaný tri-laserový systém poskytuje presnú, spoľahlivú a opakovateľnú analýzu veľkosti častíc pre rozmanité spektrum aplikácií využitím osvedčené teórie kompenzácie Mie pre sférické častice a proprietárneho princípe výpočtov modifikovaného Mie pre nesférické častice. S3500 meria veľkosť častíc od 0,02 do 2800 mikrónov.
Laserová difrakcia s červeným a modrým laserom: BLUEWAVE
Vlastnosti
- Troch laserový, červený, vícedetektorový, víceúhlý optický systém
- Algoritmy, ktoré využívajú Mieovu kompenzáciu a modifikované Mie výpočty pre nesférické častice
- Schopnosť merania od 0,02 do 2800 mikrónov
- Mokré a suché meranie
- Uzavretá optická cesta zaisťuje úplnú ochranu optických komponentov, čo vedie k malému alebo žiadnemu zásahu obsluhy
Výhody produktu
- Použitím troch červených laserov sa zväčšuje rozsah meraní, čo vám dáva flexibilitu na vykonávanie analýz na širokom spektre vzoriek
- Výpočty proprietárneho modifikovaného Mie umožňujú používateľom presne zmerať zložité častice, ktoré iný analyzátor častíc snaží presne charakterizovať
- Hladký prechod z merania na mokré na suché znižuje čas prestojov
- Fixné detektory poskytujú silnú odolnosť a zaisťujú správne umiestnenie
- Malý stolný model zaberá minimum pracovnej plochy
Analyzátor veľkosti a tvaru častíc S3500 Hodnotenia našich zákazníkov
Dôveryhodné recenzie poskytované
Typické aplikácie
Používa sa v rôznych oblastiach ako napr: nápoje, biotechnológia, chemikálie, potrava, medicína / farmaceutika, kovové prášky, kovy, pigmenty, ...
chemikálie
batériový materiál
prášky
Ak chcete nájsť najlepšie riešenie pre vaše potreby charakterizácie častíc, navštívte našu aplikačné databázu
Analyzátor veľkosti častíc S3500 Technické údaje
| Measuring range | 0.02 µm - 2.8 mm |
|---|---|
| Measuring principle | Laser diffraction |
| Lasers | 3x Red 780 nm |
| Laser power | 3 mW nominal |
| Detection system | Two fixed photo-electric detectors with logarithmically spaced segments placed at correct angles for optimal scattered light detection from 0.02 to 165 degrees using 151 detector segments. |
| Data | Volume, number and area distributions as well as percentile and other summary data |
| Data format | Stored in ODBC format in encrypted Microsoft Access Databases to ensure compatibility with external statistical software applications. |
| Data integrity | Data integrity may be ensured using FDA 21 CFR Part 11 compliant security features including password protection, electronic signatures and assignable permissions |
| Measuring time | ~ 10 to 30 seconds |
| Power requirements | AC input: 90 - 132 VAC, 47 - 63 Hz, single phase 200 to 265 VAC, 47 - 63 Hz, single phase |
| Power consumption | 25 W nominal, 50 W max. (depending on options installed) |
| Environmental conditions | Temperature: 5° to 40° Celsius (50° to 95° Fahrenheit) Humidity: 90% RH, non- condensing maximum Storage temperature: -10° to 50° Celsius (14° to 122° Fahrenheit) (dry only) Pollution: Degree 2 |
| Physical specifications | Case Material: Steel and impact resistant plastic Exterior surfaces are finished with corrosion resistant paint or plating |
| Dimensions (W x H x D) | ~ 560 x 360 x 460 mm (22 x 14 x 18 in) |
| Weight | ~ 27 kg (60 lbs ) |
| Eductor air supply | 100 psi (689 kPa) maximum pressure 5 CFM (8,5 m3/h) at 50 psi (345 kPa) minimum flow rate Free of dry contaminants, moisture and oil |
| Vacuum | Vacuum must exceed 50 CFM |
Analyzátor veľkosti častíc S3500 Na stiahnutie
Product Overview
10 Most Common Errors in Particle Analysis - And How to Avoid Them
Particle analysis is an integral part of the quality control of bulk materials and is routinely performed in numerous laboratories. The methods used have often been established for years and are hardly ever questioned. Nevertheless, the procedure should be critically reviewed from time to time because a whole series of sources of error can negatively influence the results of a particle analysis. This white paper is intended to provide food for thought to make methods for particle characterization more reliable and accurate.
21 CFR Part 11 Compliance Matrix for Microtrac Instruments
This document explains how Microtrac FLEX software has been designed to satisfy and comply with regulations in 21 CFR Part 11 for electronic records and electronic signatures.
A Conceptual, Non-Mathematical Explanation on the Use of Refractive Index in Laser Particle Size Measurement
An explanation of Mie scattering and how Microtrac laser diffraction analyzers evaluate scattering signal from small particles.