Door de industrie verkozen Laser Diffractie (LD) analyser, perfect geschikt voor deeltjeskarakterisering: de Microtrac S3500 is de eerste deeltjesgrootte-analyser die drie nauwkeurig geplaatste rode laserdiodes gebruikt om deeltjes nauwkeurig te karakteriseren als nooit tevoren.
Het gepatenteerde Tri-Laser-systeem biedt nauwkeurige, betrouwbare en reproduceerbare analyse van de deeltjesgrootte voor een breed scala aan toepassingen door gebruik te maken van de bewezen theorie van Mie-compensatie voor sferische deeltjes en het gepatenteerde principe van gemodificeerde Mie-berekeningen voor niet-sferische deeltjes. De S3500 meet deeltjesgrootte van 0,02 tot 2800 µm.
Laserdiffractie met rode en blauwe lasers: BLUEWAVE
Kenmerken
- Tri–laser, rood, multi-detector, multi-hoek optisch systeem
- Algoritmen die gebruikmaken van Mie-compensatie en gemodificeerde Mie-berekeningen voor niet-sferische deeltjes
- Meetbereik van 0.02 tot 2800 µm
- Natte en droge metingen
- Het ingesloten optische pad zorgt voor volledige bescherming van de optische componenten, wat leidt tot weinig of geen tussenkomst van de operator
Productvoordelen
- Door gebruik te maken van drie rode lasers wordt het meetbereik vergroot, waardoor u de flexibiliteit krijgt om analyses uit te voeren op een breed scala aan monsters
- Gepatenteerde gemodificeerde Mie-berekeningen stellen gebruikers in staat om nauwkeurig complexe deeltjes te meten die andere deeltjesanalysatoren moeilijk nauwkeurig kunnen karakteriseren omwille van de vorm of transparantie
- Naadloze overstap van nat naar droog meten, waardoor stilstand gereduceerd wordt
- Vaste detectoren verzorgen duurzame betrouwbaarheid en verzekeren correcte positionering
- Beperkte tafelruimte vermindert aanspraak op waardevolle laboratorium ruimte
Deeltjes Grootte en Vorm Analyse S3500 Dit zeggen onze klanten
Trusted reviews provided by
Typische Toepassingen
Gebruikt in verschillende domeinen, zoals: dranken, biotechnologie, chemicaliën, voedsel, geneesmiddel / medicijnen, metaalpoeders, metalen, pigmenten, ...
chemicaliën
batterij materialen
poeders
Om de beste oplossing te vinden voor uw deeltjes-karakterisatie behoeften, kunt u onze toepassingsdatabase consulteren
Deeltjes Grootte Analyse S3500 Technische Gegevens
| Measuring range | 0.02 µm - 2.8 mm |
|---|---|
| Measuring principle | Laser diffraction |
| Lasers | 3x Red 780 nm |
| Laser power | 3 mW nominal |
| Detection system | Two fixed photo-electric detectors with logarithmically spaced segments placed at correct angles for optimal scattered light detection from 0.02 to 165 degrees using 151 detector segments. |
| Data | Volume, number and area distributions as well as percentile and other summary data |
| Data format | Stored in ODBC format in encrypted Microsoft Access Databases to ensure compatibility with external statistical software applications. |
| Data integrity | Data integrity may be ensured using FDA 21 CFR Part 11 compliant security features including password protection, electronic signatures and assignable permissions |
| Measuring time | ~ 10 to 30 seconds |
| Power requirements | AC input: 90 - 132 VAC, 47 - 63 Hz, single phase 200 to 265 VAC, 47 - 63 Hz, single phase |
| Power consumption | 25 W nominal, 50 W max. (depending on options installed) |
| Environmental conditions | Temperature: 5° to 40° Celsius (50° to 95° Fahrenheit) Humidity: 90% RH, non- condensing maximum Storage temperature: -10° to 50° Celsius (14° to 122° Fahrenheit) (dry only) Pollution: Degree 2 |
| Physical specifications | Case Material: Steel and impact resistant plastic Exterior surfaces are finished with corrosion resistant paint or plating |
| Dimensions (W x H x D) | ~ 560 x 360 x 460 mm (22 x 14 x 18 in) |
| Weight | ~ 27 kg (60 lbs ) |
| Eductor air supply | 100 psi (689 kPa) maximum pressure 5 CFM (8,5 m3/h) at 50 psi (345 kPa) minimum flow rate Free of dry contaminants, moisture and oil |
| Vacuum | Vacuum must exceed 50 CFM |
Deeltjes Grootte Analyse S3500 Downloads
Productinformatieblad S3500
Product Overview
10 Most Common Errors in Particle Analysis - And How to Avoid Them
Particle analysis is an integral part of the quality control of bulk materials and is routinely performed in numerous laboratories. The methods used have often been established for years and are hardly ever questioned. Nevertheless, the procedure should be critically reviewed from time to time because a whole series of sources of error can negatively influence the results of a particle analysis. This white paper is intended to provide food for thought to make methods for particle characterization more reliable and accurate.
21 CFR Part 11 Compliance Matrix for Microtrac Instruments
This document explains how Microtrac FLEX software has been designed to satisfy and comply with regulations in 21 CFR Part 11 for electronic records and electronic signatures.
A Conceptual, Non-Mathematical Explanation on the Use of Refractive Index in Laser Particle Size Measurement
An explanation of Mie scattering and how Microtrac laser diffraction analyzers evaluate scattering signal from small particles.