Preferowany w branżach przemysłowych analizator działający w oparciu o dyfrakcję laserową, idealny do charakteryzacji cząstek: Microtrac S3500 to pierwszy analizator wielkości cząstek, który wykorzystuje trzy precyzyjnie rozmieszczone czerwone diody laserowe do dokładnego jak nigdy wcześniej charakteryzowania cząstek.
Opatentowany system trzy-laserowy zapewnia dokładną, niezawodną i powtarzalną analizę wielkości cząstek dla różnorodnych zastosowań, wykorzystując sprawdzoną teorię kompensacji Mie dla cząstek sferycznych i zastrzeżoną zasadę obliczeń zmodyfikowanych Mie dla cząstek niesferycznych. S3500 mierzy wielkość cząstek od 0,02 do 2800 µm.
Dyfrakcja laserowa z czerwonymi i niebieskimi laserami: BLUEWAVE
Cechy
- Tri–laser, czerwony, wielodetektorowy, wielokątowy układ optyczny
- Algorytmy wykorzystujące kompensację Mie i zmodyfikowane obliczenia Mie dla cząstek niesferycznych
- Możliwość pomiaru w zakresie 0,02 to 2800 µm
- Pomiar na mokro i na sucho
- Zamknięta ścieżka optyczna zapewnia pełną ochronę elementów optycznych, wymagająca niewielkiej lub żadnej interwencji operatora
Zalety produktu
- Wykorzystanie trzech czerwonych laserów zwiększa zakres pomiarowy, zapewniając elastyczność przeprowadzania analiz dla szerokiej gamy próbek
- Obliczenia rozwiązaniem Mie pozwalają użytkownikom na dokładny pomiar złożonych cząstek, z których scharakteryzowaniem mają problem inne analizatory cząstek
- Płynne przejście z pomiaru na mokro do pomiaru na sucho skraca przestoje
- Stałe detektory zapewniają dużą wytrzymałość i zapewniają prawidłowe pozycjonowanie
- Niewielkie rozmiary na stole pozwalają na dobre wykorzystanie cennej powierzchni laboratoryjnej
Analizator wielkości i kształtu S3500 Recenzje naszych klientów
Zaufane recenzje dostarczone przez
Typowe aplikacje
Używany w różnych dziedzinach, takich jak: napoje, biotechnologia, chemikalia, żywność, medycyna/farmacja, proszki metali, metale, pigmenty, ...
chemikalia
materiały baterii
proszki
Aby znaleźć najlepsze rozwiązanie dla swoich potrzeb w zakresie charakterystyki cząstek, odwiedź naszą bazę danych aplikacji
Analizator wielkości cząstek S3500 Dane techniczne
| Measuring range | 0.02 µm - 2.8 mm |
|---|---|
| Measuring principle | Laser diffraction |
| Lasers | 3x Red 780 nm |
| Laser power | 3 mW nominal |
| Detection system | Two fixed photo-electric detectors with logarithmically spaced segments placed at correct angles for optimal scattered light detection from 0.02 to 165 degrees using 151 detector segments. |
| Data | Volume, number and area distributions as well as percentile and other summary data |
| Data format | Stored in ODBC format in encrypted Microsoft Access Databases to ensure compatibility with external statistical software applications. |
| Data integrity | Data integrity may be ensured using FDA 21 CFR Part 11 compliant security features including password protection, electronic signatures and assignable permissions |
| Measuring time | ~ 10 to 30 seconds |
| Power requirements | AC input: 90 - 132 VAC, 47 - 63 Hz, single phase 200 to 265 VAC, 47 - 63 Hz, single phase |
| Power consumption | 25 W nominal, 50 W max. (depending on options installed) |
| Environmental conditions | Temperature: 5° to 40° Celsius (50° to 95° Fahrenheit) Humidity: 90% RH, non- condensing maximum Storage temperature: -10° to 50° Celsius (14° to 122° Fahrenheit) (dry only) Pollution: Degree 2 |
| Physical specifications | Case Material: Steel and impact resistant plastic Exterior surfaces are finished with corrosion resistant paint or plating |
| Dimensions (W x H x D) | ~ 560 x 360 x 460 mm (22 x 14 x 18 in) |
| Weight | ~ 27 kg (60 lbs ) |
| Eductor air supply | 100 psi (689 kPa) maximum pressure 5 CFM (8,5 m3/h) at 50 psi (345 kPa) minimum flow rate Free of dry contaminants, moisture and oil |
| Vacuum | Vacuum must exceed 50 CFM |
Analizator wielkości cząstek S3500 Do pobrania
Product Overview
10 Most Common Errors in Particle Analysis - And How to Avoid Them
Particle analysis is an integral part of the quality control of bulk materials and is routinely performed in numerous laboratories. The methods used have often been established for years and are hardly ever questioned. Nevertheless, the procedure should be critically reviewed from time to time because a whole series of sources of error can negatively influence the results of a particle analysis. This white paper is intended to provide food for thought to make methods for particle characterization more reliable and accurate.
21 CFR Part 11 Compliance Matrix for Microtrac Instruments
This document explains how Microtrac FLEX software has been designed to satisfy and comply with regulations in 21 CFR Part 11 for electronic records and electronic signatures.
A Conceptual, Non-Mathematical Explanation on the Use of Refractive Index in Laser Particle Size Measurement
An explanation of Mie scattering and how Microtrac laser diffraction analyzers evaluate scattering signal from small particles.