A részecskekoncentráció, a részecskeméret és a zéta-potenciál mellett, gyakran érdekes annak meghatározására, hogy hány részecske van diszpergálva egy folyadékban, vagy hogy hány részecske van jelen méretosztályonként. Ez az információ nagyon hasznos például egy gyógyszer terápiás ablakának meghatározásához a gyógyszeriparban, vagy a festékek vagy festékek opacitásának jelzésére. Ez csak néhány példa, ennél sokkal több alkalmazás létezik.
A Microtrac NANOTRAC dinamikus fényszórásos (DLS) analizátor sorozatával most már nemcsak a részecskeméret, a molekulatömeg és a zéta-potenciál mérésére van lehetőség, hanem a részecskekoncentrációra vonatkozó további információk megszerzésére is. A Nanotrac sorozat különböző modelljei az alábbi képen láthatók.
Get to know Microtrac's NANOTRAC series.
Hogyan határozzák meg a részecskekoncentrációt?
A Nanotrac sorozat egyedülálló optikai kialakítása a 180°-os önerősítő heterodin referencia módszerrel 106-szor jobb jel-zaj aránnyal rendelkezik, mint a PCS műszerek. A visszavert lézer által felerősített jel gyors Fourier-transzformációja lineáris frekvenciájú teljesítményspektrumot eredményez, amelyet logaritmikus teljesítményspektrummá alakítanak át. A részecskekoncentrációra vonatkozó kiegészítő információ e teljesítményspektrum és az ebből származó terhelésindex (LI) segítségével érhető el. A teljesítményspektrum az ábrán látható. A terhelési index az összes logaritmikus frekvenciacsatorna amplitúdóinak összege, és függ a részecskekoncentrációtól. Kevés részecske alacsony Loading Indexet mutat, a magas koncentráció magas Loading Indexet eredményez. A részecskekoncentráció kiszámításához az SOP (Standard Operation Procedure) "Mode" elemzést kell kiválasztani. Ennek az elemzési módszernek a használata esetén a teljesítményspektrumot különböző móduszokra osztják. Így minden egyes üzemmódból belsőleg ki lehet számítani a terhelési indexet, és azt az egyes frakciókhoz lehet rendelni. Ily módon az egyes részecskefrakciók koncentrációja is meghatározható. A módusok osztályozása és a részecskefrakciókhoz való hozzárendelés teljesen automatikusan történik. A kiválasztott részecskeméret-ábrázolástól függően a koncentráció köbcentiméter per milliliterben (cc/ml) jelenik meg, ami az intenzitással súlyozott vagy térfogatsúlyozott méretábrázolás esetén lenne a helyzet. Számalapú méretreprezentáció esetén a koncentráció milliliterenkénti részecskeszámban (N/ml) jelenik meg.
Részecskekoncentráció Alkalmazási példák of particle concentration measurement
A részecskekoncentráció ismertetett mérésére példaként az alábbiakban egy 30 nm-es és 200 nm-es részecskékből álló keverék részecskeméret-eloszlását mutatjuk be. Az ábra az intenzitás alapú grafikon adatait és méreteloszlását mutatja.
Ez az ábra a számmal súlyozott részecskeméret-eloszlást mutatja, amely az előző ábrán látható intenzitás-alapú ábrából számítható ki. A 200 nm-es részecskék részecskekoncentrációja még mindig a számeloszlásban jelenik meg, bár az összlétszámhoz viszonyított százalékos aránya olyan kicsi, hogy már nem látható az eloszlási görbén.
A részecskekoncentráció meghatározása monomodális vagy multimodális méreteloszlás esetén is működik. Ez az ábra egy trimodális minta példáját mutatja az intenzitással súlyozott méretreprezentációban. Három 26 nm-es, 216 nm-es és 1,8 µm-es frakcióból áll. A 200 nm-es frakció koncentrációja állandó, 1,39∙10-4 cc/ml és 1,34∙10-4 cc/ml, mivel az első bimodális mintához csak 2 µm-es standardot adtunk. A 30 nm-es frakció koncentrációja szintén állandó marad, 1,01∙10-10-2 cc/ml és 1,10∙10-2 cc/m
Ezek a diagramok a legegyszerűbb példaként egy 100 nm-es standard részecskekoncentrációját és méreteloszlását mutatják intenzitásban és számban.
A NANOTRAC sorozatú analizátorok használata
A Nanotrac sorozat segítségével a részecskeméret-elemzés mellett a diszperzió vagy emulzió részecskekoncentrációja is kiszámítható ugyanabból a mérésből, ami további, számos alkalmazásban hasznos információkat szolgáltat a mintáról. Ez az egyedi optikai kialakításnak és a teljesítményspektrum gyors Fourier-transzformációval történő felhasználásának köszönhető.
Forduljon hozzánk ingyenes konzultációért!
A végső döntés - miszerint a feladat elvégzésére elegendő egyszerű szitaelemzés vagy lézerfénydiffrakció vagy képfeldolgozó szemcseanalizátor beszerzésére van szükség - a feldolgozandó minták mennyiségétől, a rendelkezésre álló büdzsé mértékétől, a szakemberek számától, a speciális nemzetközi szabványnak vagy felhasználói követelménynek való megfelelés kényszerétől is függ.
Miért is ne vennék igénybe a Microtrac cég szakembereivel való ingyenes konzultációt, hogy közösen találják meg a speciális követelményeket kielégítő optimális megoldást?