Microtrac の NANOTRAC Wave II / Zeta は、動的光散乱法を用いた粒子径分布、およびゼータ電位を測定する分析装置です。
プローブ構造とヘテロダイン検出方式 を採用した独自の光学設計により、幅広い濃度範囲において安定した測定を実現しました。
また、周波数解析法 (FPS) により、粒子径分布をパワースペクトル解析から直接求めることも可能であり、サンプルの単峰性または多峰性の評価を可能としています。
これらの設計により、粒子サイズ分布に関する事前の知識がなくても、あらゆるアプリケーションにて信頼性の高い、高精度な測定が行えます。
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II
- 180°後方散乱光検出機構
- サンプルの入れ替えや電極交換不要 – 調整不要
- 高速で電場を反転させ、電気浸透流を防止
- 周波数スペクトル解析法
- 高濃度ゼータ電位測定
- 分子量測定
- 有機溶剤対応
- 直接検出方式による低濃度から高濃度までの安定したデータ
- ヘテロダイン法 – 高SN比
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II / ZETA コロイド系の正確な測定
NANOTRAC WAVEシリーズは、DLS測定に革新的なプローブ技術を採用しています。Laser Amplified Detection方式を採用することで、あらゆる種類の材料に対して、再現性のある安定した粒子径測定が可能です。
また、流体力学的半径またはDebyeプロットのいずれかによって分子量を計算することも可能です。
NANOTRAC WAVE IIでは、異なるサイズの再利用可能なサンプルセルを備えています。標準およびマイクロボリュームのフッ素樹脂製セルがあり、幅広い素材に対応しています。
NANOTRAC WAVE II Zetaは、ゼータ電位測定用の電極を備えた、再利用可能な特別なゼータセルを備えています。Wave IIのサンプルセルは、ゼータ・モデルにも対応しています。
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II / ZETA 粒子径分布・ゼータ電位測定装置
Microtrac DLS測定装置におけるゼータ電位の測定は、ナノ粒子の粒子径分布の測定に使用されているのと同じ周波数スペクトル解析法を利用しています。サンプル入れ替えや電極の交換は必要ありません。移動度を粒子径分布測定と同様に検出します。印加電圧をかけ高速に電場を反転させて電気浸透流を防ぎます。 2つのプローブを用い、1つは滑り面での粒子の電荷の極性を判定し、もう1つは電場中での粒子の移動度を測定します。
移動度=C×([PSD(on)-PSD(off)]/LI(off)の比)
ゼータ電位 ∝ 移動度
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC FLEX 代表的な用途
汎用性の高さは動的光散乱（DLS）の大きな強みです。そのため、医薬品、コロイド、マイクロエマルション、ポリマー、工業用鉱物、インクなど、研究と産業の両方でさまざまなアプリケーションに適した方法となっています。
医薬品
- 医薬品
- インク
- ライフサイエンス
- セラミックス
- 飲料 & 食品
エマルジョン
- コロイド粒子
- ポリマー
- マイクロエマルション
- 化粧品
- 化学物質
鋼
- 環境測定
- 粘着物
- 金属
- 工業用鉱物
その他
アプリケーションデータベースに各種資料を掲載しております。
Intuitive Use With Just a Few Clicks DIMENSIONS LS for NANOTRAC Series
The DIMENSIONS LS software comprises five clearly structured Workspaces for easy method development and operation of the NANOTRAC instrument. Results display and evaluation of multiple analyses are possible in the corresponding workspaces, even during ongoing measurements.
- Simple method development
- Clearly structured result presentation
- Various evaluation options
- Intuitive workflow
- Extensive data export
- Multi-user capability
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II 製品仕様
| Method | Backscattered laser-amplified scattering reference method |
|---|---|
| Calculation model | FFT power spectrum |
| Measurement angle | 180° |
| Measuring range | 0.3 nm - 10 µm |
| Sample cell | Various sample cell options |
| Zeta potential analysis | yes |
| Zeta potential analysis | yes |
| Zeta measurement range (potential) | -200 mV - +200 mV |
| Zeta measurement range (size) | 10 nm - 20 µm |
| Electrophoretic mobility | 0 - 15 (µm/s) / (V/cm) |
| Conductivity measurement | yes |
| Conductivity range | 0 - 10 mS / cm |
| Molecular weight measurement | yes |
| Molecular weight range | <300 Da -> 20 x 10^6 Da |
| Temperature range | +4°C - +90°C |
| Temperature accuracy | ± 0.1°C |
| Temperature control | yes |
| Temperature control range | +4°C - +90°C |
| Titration | yes |
| Reproducibility (size) | =< 1% |
| Reproducibility (zeta) | + / - 3% |
| Sample volume size measurement | 50 µl - 3 ml |
| Sample volume zeta measurement | 150 µl - 2 ml |
| Concentration measurement | yes |
| Sample concentration | up to 40 % (sample dependent) |
| Carrier fluids | Water, polar and unpolar organic solvents, acid and base |
| Laser | 780 nm, 3 mW; 2 laser diodes with zeta |
| Humidity | 90 % non-condensing |
| Dimensions (W x H x D) | 355 x 381 x 330 mm |
ナノ粒子径測定装置 NANOTRAC WAVE II 資料ダウンロード
Product data sheet Nanotrac Wave II
Product Overview
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Particle analysis is an integral part of the quality control of bulk materials and is routinely performed in numerous laboratories. The methods used have often been established for years and are hardly ever questioned. Nevertheless, the procedure should be critically reviewed from time to time because a whole series of sources of error can negatively influence the results of a particle analysis. This white paper is intended to provide food for thought to make methods for particle characterization more reliable and accurate.
21 CFR Part 11 Compliance Matrix for Microtrac Instruments
This document explains how Microtrac FLEX software has been designed to satisfy and comply with regulations in 21 CFR Part 11 for electronic records and electronic signatures.